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鍍鎳測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

1   分析元素范圍：S-U2   可分析多達(dá)3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s6   計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7  儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

鍍鎳測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè)；

合金成分分析；