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XTU型國產(chǎn)x射線熒光測厚儀

國產(chǎn)X射線熒光測厚儀硬件配置

主機壹臺
含下列主要部件：
(1)X光管                      (2)Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
(3)放大電路                   (4)高清晰攝像頭
(5)高壓系統(tǒng)                   (6)單樣品腔

標(biāo)準(zhǔn)附件

準(zhǔn)直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）

國產(chǎn)X射線熒光測厚儀技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：K-U
分析厚度檢出限達0.005μm
高壓：5kV-50kV
x射線熒光測厚儀同時可分析多達5層鍍層
管流：50μA-1000μA
測量時間：5s-300s
樣品腔尺寸：306mm×260mm
計數(shù)率:0-10000cps

工作環(huán)境要求

工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾
環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
環(huán)境相對濕度：<70%