該款紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

北師大UV-313/UV-340單通道紫外輻照計產(chǎn)品特點

光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

項目	參數(shù)	備注
波長范圍λ1，峰值波長λp	（290～340）nm，λ_P＝313nm	用戶二選一
波長范圍λ2，峰值波長λp	（315～370）nm，λ_P＝340nm	用戶二選一
輻照度測量范圍	（0.1～199.9×10³） μW/cm²
零值誤差（滿量程FS）	<滿量程的±1.0%
長波響應(yīng)誤差	<15%
余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差	<10%
非線性誤差	<±1.5%
換檔誤差	<±1.0%
疲勞誤差	<3.0%
相對示值誤差	<±8.0％（相對于NIM標準）
響應(yīng)時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA

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北師大UV-313/UV-340單通道紫外輻照計技術(shù)參數(shù)

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