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無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件和PXI功能，以幫助芯片商應對他們面臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以*體現(xiàn)出來。"由于其高吞吐量、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中實驗室級別的測量質(zhì)量。給出了4051的突發(fā)功率測量功能測量某一突發(fā)信號的測量結(jié)果。4051突發(fā)功率測量如果沒有用戶定義突發(fā)信號寬度，突發(fā)脈沖寬度可以這樣得到：在捕獲的數(shù)據(jù)中找出峰值，然后找 跡上個高于閾值的位置，即為脈沖的起始點，脈沖的終點為軌跡上低于閾值的個點，平均載波功率通常由脈沖寬度和閾值計算得到