薄膜厚度測(cè)量?jī)x，又被稱為薄膜測(cè)厚儀、膜厚測(cè)試儀、薄膜厚度儀等，是一種用于測(cè)量薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料厚度的儀器設(shè)備。

機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀的測(cè)試原理，是通過位移傳感器測(cè)試薄膜材料的厚度。在測(cè)試前，儀器的測(cè)量頭落在設(shè)備砧板上，傳感器讀取測(cè)量頭的初始位移值，測(cè)量頭抬起后，將試樣放置在砧板紙上，測(cè)量頭以同樣的壓力落在試樣上，傳感器讀取測(cè)量頭的位移值，兩次位移值之差則為試樣的厚度值。

薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試范圍（標(biāo)配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重復(fù)性：0.4μm

測(cè)量范圍（選配）：0～6、0～12mm

測(cè)量間距：0～1000mm（可設(shè)定）

進(jìn)樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）

測(cè)量方式：機(jī)械接觸式