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SR20塑料測厚儀薄膜厚度測量儀可測15nm納米
SR20塑料測厚儀薄膜厚度測量儀可測15nm納米

產(chǎn)品特點(diǎn)

測量原理:基于光的干涉原理，通過分析從薄膜表面反射和從薄膜/基底界面反射的光的干涉圖案來計(jì)算薄膜厚度。

非接觸測量:不需要與樣品接觸，不會對樣品造成損害，特別適合于測量軟質(zhì)材料或表面易受損的樣品。

高精度:提供非常精確的測量結(jié)果，精度可以達(dá)到納米級別。

快速測量:測量過程快速，可以即時(shí)獲得結(jié)果適合生產(chǎn)線上的快速檢測。

易于操作:具有用戶友好的界面，使得操作簡便，用戶可以快速上手。

多層膜測量能力:可以測量多層復(fù)合薄膜的每一層的厚度。

數(shù)據(jù)分析:配備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析軟件，能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行深入分析。

測量厚度從15nm到100um的膜厚測量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，SR20都能滿足您的需求。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于其模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，SR20適用于各種應(yīng)用:

測量厚度、折射率、反射率和透過率:

·單層膜或多層膜 ·單一膜層 ·液態(tài)膜或空氣盒厚

使用不同配件條件下的測量，包括:

·平面或彎曲表面

·光斑最小可達(dá)20微米

·桌面式、XY坐標(biāo)自動化膜厚測量，或在線測量

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的電話和互聯(lián)網(wǎng)

支持(24小時(shí)/每周5工作日)。

膜層范例基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。這包括幾平所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料