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布魯克(北京)科技有限公...

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網絡講堂 | 布魯克FTIR在硅產品質控領域的系列方案

閱讀:1927      發(fā)布時間:2021-7-22
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幾十年來,半導體行業(yè)在開發(fā)新材料和改進制造工藝方面一直保持著快速創(chuàng)新。在許多應用領域,例如可再生能源(光伏或氫技術)、航空航天和電子,半導體(尤其是硅)是不可少的基本材料。為了確保高效率和產品質量,以雜質的識別和量化、缺陷檢測或光學器件功能測試等形式進行的硅質量控制已經成為半導體行業(yè)中一項至關重要且艱巨的任務。


對于半導體QC來說,F(xiàn)T-IR光譜作為一種簡單而有效的工具從眾多手段中脫穎而出。布魯克生產的FT-IR譜儀可提供各種產品組合,用以幫助在開發(fā)和過程控制方面進行創(chuàng)新。


講堂主題:布魯克FTIR在硅產品質控領域的系列方案

開播時間:7月28日(周三)15:30準時開播

演講人:布魯克光譜德國應用專家 吳丹博士

 

在此次舉行的免費網絡研討會中,我們將向您介紹布魯克使用FT-IR光譜進行半導體質量控制的高靈敏度解決方案,敬請關注!


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