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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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- 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）。
- 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
Park NX12原子力顯微鏡可用于任何一個項目，NX系列的眾多掃描模式和模塊化設(shè)計使它可輕松地適應(yīng)任何一個掃描探針顯微鏡的需求。
Park NX12原子力顯微鏡參數(shù)：
標準成像：
- 真正的非接觸模式AFM
- 接觸模式AFM
- 側(cè)向力顯微鏡（LFM)
- 相位成像
- 輕敲式AAFM
電性能：
- 導(dǎo)電AFM
- I-V譜線
- 掃描開爾文探針顯微鏡（SKPM/KPM)
- 高電壓SKPM
- 掃描電容顯微鏡（SCM)
- 掃描電阻顯微鏡（SSRM)
- 掃描隧道顯微鏡 （STM)
- 掃描隧道光譜 （STS)
- 時間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
磁性能：
- 磁力顯微鏡 （MFM)
- 可調(diào)外加磁場MFM
化學(xué)性能：
- 掃描電化學(xué)池顯微鏡（SECCM)
- 掃描電化學(xué)顯微鏡 （SECM)
- 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
- 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
熱性能：
- 掃描熱感顯微鏡(SThM)
光學(xué)性能：
- 探針增強拉曼光譜 (TERS)
- 時間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
介電/壓電性能：
- 靜電力顯微鏡 （EFM)
- 動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)
- 壓電力顯微鏡 （PFM)
- 高電壓PFM
機械性能
- Pinpoint納米力學(xué)映射
- 力調(diào)制顯微鏡 （FMM)
- 納米壓痕
- 納米刻蝕
- 高電壓納米刻蝕
- 納米操縱
- 壓電力顯微鏡 （PFM)
力測量：
- 力－距離（F-D)光譜
- 力－體積成像
- 熱噪聲法標定彈性系數(shù)