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局部放電測試系統(tǒng)試驗回路的一般要求，敘述了幾種用于測量局部放電參量的基本試驗回路，并介紹了這些回路和系統(tǒng)的工作原理。有關技術委員會還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗回路。只要可能，建議有關技術委員會用視在電荷作為被測參量，但對特殊情況也可以使用別的參量。
如果有關技術委員會未作規(guī)定，則4.2所述的任何試驗回路以及第5章中所規(guī)定的任何測量系統(tǒng)均可使用。
試驗回路，用于局部放電測量的大多數回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來。圖2和圖3表示這些回路的一些變化，每個回路的組成主要有：
a) 試品，通常被認為是一個電容器Ca(參見附錄D)。
b)耦合電容器Ck(應設計為低電感電容)，或第二個試品Cn1(類似于試品Ca)。在規(guī)定的試驗電壓下Ck或Ca1均應具有足夠低的局部放電水平，以便對規(guī)定的局部放電值進行測量。如果一個測量系統(tǒng)能夠區(qū)分并分別測量來自試品和耦合電容器中的局部放電，那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。
c)帶輸人阻抗的測量系統(tǒng)(對平衡回路，還需要第二個輸入阻抗)。
d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局部放電值進行測量。
e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局部放電值進行測量。
f)有時在高壓端接人一個阻抗或濾波器，以減小來自供電電源的背景噪聲。
注：對于圖1~圖3所示的局部放電基本試驗回路，其測量系統(tǒng)的耦合裝置也可放在高壓端，即耦合裝置與Ca或Ck交換位置;這時可用光纜來連接耦合裝置和測量儀器，如圖1a)所示。
不同試驗回路的其他情況及特性可參見附錄C和附錄H。
