SediGraph 粒度儀采用柔軟的 X 射線檢測(cè)顆粒的相對(duì)濃度,它的主要原理是利用顆粒對(duì) X 射線的吸收量,正比于顆粒質(zhì)量。
X 射線無論何時(shí)都無法照射到儀器的操作者,做到此取決于儀器內(nèi)部的設(shè)計(jì):測(cè)量室門的密封和開閉特性。 一個(gè)機(jī)械快門機(jī)構(gòu),當(dāng)門被輕微打開 12 毫米時(shí),立刻會(huì)激發(fā)機(jī)械快門遮擋住 X 射線進(jìn)入測(cè)量室;同時(shí)儀器裝配的若干電子自鎖機(jī)構(gòu),用于切斷 X 射線源的供電。每當(dāng)測(cè)量室門,儀器蓋板被打開時(shí),立刻發(fā)揮作用。
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