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首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>CV測(cè)試

  • 汞探針測(cè)試 參考價(jià):面議

    LEI Model2017B,通過(guò)汞探針接觸方法,對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。
    型號(hào): LEI Model... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
    汞探針測(cè)試
    2025/5/7 12:44:03423
  • 汞CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

    汞CV測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試;MCV-530L可測(cè)最大200mm的樣品。
    型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
    CV測(cè)試
    2025/5/7 12:41:35597
  • CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

    CV-1500,用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái),基于SDI Corona-Kelvin技術(shù),可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。
    型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
    CV測(cè)試
    2025/5/7 12:40:03652

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