目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>漫反射率測(cè)試系統(tǒng)>> S-MRS系列漫反射率測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2025-05-06 19:06:16瀏覽次數(shù)：2084評(píng)價(jià)
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S-MRS系列漫反射率測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用：
• 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
• 光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
• 光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
S-MRS系列漫反射率測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)
• 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
• 光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
• 光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
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