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目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)
  • 線掃描膜厚儀(在線型)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

>

更新時間:2025-05-07 12:03:17瀏覽次數(shù):612評價

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●采用線掃描方式檢測整面薄膜

●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計

●作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援

●實現(xiàn)高精度測量(已獲取專zhuan利)

●實現(xiàn)高速測量

●不受偏差影響

●可對應(yīng)寬幅樣品(TD方向最大可測量10m)

產(chǎn)品信息

特點

線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)

式樣

膜厚范圍0.1~300 μm
測量幅度500 mm~最大10 m
測定間隔1 ms~
裝置大小(W×D×H)81×140×343 mm
重量4 kg(僅頭部)
最大功耗AC100 V±10% 125VA

測量案例

500mm寬的包裝薄膜

線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。

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