正置金相顯微鏡 參考價(jià)：面議
MIT300/500正置金相顯微鏡廣泛應(yīng)用于工礦企業(yè)、教學(xué)、科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)等領(lǐng)域，明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光等觀察方式，透射、反射照明供選擇。
正置金相顯微鏡 參考價(jià)：面議
MIT200正置金相顯微鏡廣泛應(yīng)用于工礦企業(yè)、教學(xué)、科研等領(lǐng)域，電子、金屬材料、礦物、地質(zhì)、精密儀器等檢查、分析及研究的工具。
金相顯微鏡 參考價(jià)：面議
MIT600/700金相顯微鏡適用于工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的新型金相顯微鏡，光學(xué)性能及超長(zhǎng)的物鏡工作距離，可以滿足不同的觀察訴求。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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