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薄膜測厚儀是依據(jù)什么原理測量的？
閱讀：1918 發(fā)布時間：2022-4-22
薄膜的厚度是否均勻是檢驗(yàn)薄膜性能的依據(jù)。顯然，如果一批單層薄膜的厚度不均勻，不僅會影響薄膜的抗拉強(qiáng)度和阻隔性能，還會影響薄膜的后續(xù)加工。此外，合理控制產(chǎn)品厚度，不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，還可以降低材料消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在范圍內(nèi)，都是薄膜能否具備一些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造行業(yè)的基本檢測項(xiàng)目之一。
薄膜測厚儀采用機(jī)械接觸測量原理，截取一定尺寸的圖案；通過控制面板上的按鈕調(diào)整測頭落在圖案上；材料的厚度是通過兩個接觸面產(chǎn)生的壓力和傳感器測量的兩個接觸面積來測量的。
1、接觸面積和測量壓力嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，同時支持各種非標(biāo)定制。
2、薄膜測厚儀測試時測頭自動升降，有效避免人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
3、支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
4、系統(tǒng)可自動進(jìn)樣，進(jìn)樣步驟、測點(diǎn)、進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)可由用戶自行設(shè)置。
5、測量結(jié)果的平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)實(shí)時顯示，方便用戶判斷。
6、配置標(biāo)準(zhǔn)量塊進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)，確保測試的準(zhǔn)確性和數(shù)據(jù)一致性。
7、系統(tǒng)支持實(shí)時數(shù)據(jù)顯示、自動統(tǒng)計(jì)、打印等多項(xiàng)實(shí)用功能。
8、5寸觸摸屏控制，方便用戶進(jìn)行測試操作和數(shù)據(jù)查看。
9、薄膜測厚儀標(biāo)準(zhǔn)USB接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)交換。