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紅外線氣體分析儀常見故障及處理方法
紅外線氣體分析儀常見故障及處理方法
溫度變化的干擾：
紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定，影響紅外輻射的強(qiáng)度，影響測量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度，還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài)，檢測器的輸出阻抗下降，導(dǎo)致儀器不能正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護(hù)電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響，在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下，需改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。
光路不平衡干擾：
一臺(tái)紅外線氣體分析儀預(yù)熱后通入氮?dú)鈺r(shí)，輸出很大，這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起，因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達(dá)到小，再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出Z小即可。然后同零點(diǎn)氣和量程氣，反復(fù)校準(zhǔn)儀表零點(diǎn)和量程。
水分干擾：
零點(diǎn)氣中若有水分，紅外線氣體分析器標(biāo)定后，會(huì)引起負(fù)誤差，在近紅外區(qū)域，水有連續(xù)的特征吸收波譜，若標(biāo)定用的零點(diǎn)氣中含有水分時(shí)，將造成儀器的零位的負(fù)偏，標(biāo)定后儀器示值必然比實(shí)際值偏低，從而起負(fù)誤差。
大氣壓力波動(dòng)的干擾：
大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí)，變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化，對氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣，會(huì)隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化，從而造成附加誤差。