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動態(tài)光散射技術(shù)的角度依賴性

時間:2023/5/8閱讀:1919
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       與單角度動態(tài)光散射技術(shù)相比,多角度動態(tài)光散射(MADLS)顆粒測量技術(shù)能夠提高顆粒粒度分布的測量準(zhǔn)確性。但在MADLS技術(shù)中,測量角度的選擇常常與被測顆粒體系的分布有關(guān)。對100nm、500nm的單峰模擬分布和300 nm與600nm混合的雙峰模擬分布的顆粒體系,分別在1、3、6、9個散射角條件下進(jìn)行了測量。顆粒粒度反演結(jié)果表明,隨著散射角個數(shù)的增大,顆粒粒度分布更趨于真實(shí)的顆粒粒度分布。對數(shù)量比為5:1的100nm 與503nm雙峰分布的聚苯乙烯顆粒,分別在1、3、5、10個散射角條件下進(jìn)行了測量,實(shí)測結(jié)果表明采用單角度測量只能得到單峰分布,3個及更多散射角可得到雙峰分布,并且雙峰的數(shù)量比隨散射角數(shù)量的增加逐漸趨近真實(shí)的數(shù)量比。因此,MADLS顆粒測量技術(shù)能夠改善顆粒粒度分布的測量結(jié)果,但這種改善程度會隨散射角的增多逐漸降低。由于散射角個數(shù)的增多會增加散射角的校準(zhǔn)噪聲和光強(qiáng)相關(guān)函數(shù)的測量噪聲,因而會導(dǎo)致在有些情況下顆粒粒度分布的測量結(jié)果反而變差。

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