NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀

掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復原整個光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點 :

取樣尺度可以到微米量級，遠小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬范圍波段；

單點探測器具備很高的動態(tài)范圍，一個探頭可同時適應弱光和強光分析。

掃描式光束分析儀的缺點 : 

多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀

NanoScan 2s Si/3.5/1.8  7µm至~2.3mm

NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數據捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率級范圍為~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或專業(yè)軟件

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

產品規(guī)格

產品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8

傳感器類型：Silicon Photodetector

光譜范圍：190 to 1100 nm

狹縫尺寸：1.8 µm

孔徑尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 μm to 2.3 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率范圍：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0