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用于材料學(xué)的配置：

1. BX53M反射和反射/透射觀察BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。

2. BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。IR物鏡可用于透過(guò)硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測(cè)量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見(jiàn)光波長(zhǎng)到近紅外的像差校正。對(duì)于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個(gè)物鏡即可獲取清晰的圖像

3. BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。

MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)支持檢測(cè)尺寸達(dá)300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的人性化系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可在各種應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)理想的觀察條件。結(jié)合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時(shí)，從觀察到生成報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)流程更簡(jiǎn)潔直觀。

滿(mǎn)足電子行業(yè)需求

應(yīng)用反射光顯微鏡在很多應(yīng)用和行業(yè)中普遍應(yīng)用。以下是采用不同的觀察方法所達(dá)到的一些效果示例。

暗場(chǎng)/MIX  熒光/MIX  投射/MIX  微分干涉  偏光 紅外（IR)