首頁>>沈陽科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)及分析儀器>>膜厚儀
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200薄膜...
SGC-10薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
SGC-10薄膜測(cè)厚儀適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。該薄膜測(cè)厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-spa...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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