Fischer代理鍍層測厚儀XDL220

Fischer代理鍍層測厚儀XDL220

fischer代理菲希爾測厚儀X射線鍍層測厚儀簡介：

fischer代理德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。fischer代理它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，fischer代理同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。fischer xdl220德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

fischer xdl220測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

fischer xdl220測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

fischer xdl220測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

菲希爾測厚儀測量印刷線路板

菲希爾測厚儀分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾x射線測厚儀Fischerscope XAN500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500fischer代理是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

fischer xdl220采用*的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。