銅上鍍鎳厚度測量Dualscope H FMP150

銅上鍍鎳厚度測量Dualscope H FMP150

Fischer涂層測厚儀Dualscope H FMP150的優(yōu)點:

●銅上鍍鎳厚度測量探頭的種類很多，包括很多專用探頭，用于精確執(zhí)行各種厚度測量任務。

●銅上鍍鎳厚度測量根據DIN EN ISO 2178的磁感應測量方法和根據DIN EN ISO 2360的渦流測量方法具有最大的靈活性；DUALSCOPE H FMP150也有磁性測量方法。

●涂層厚度測量規(guī)范包括IMO PSPC、SSPC-PA2、QUALANOD或QUALICOAT。

●自動識別探針和基板

●在高分辨率圖形觸摸屏上詳細顯示測量模式和檢查計劃。

●廣泛的評估和統(tǒng)計功能，支持圖形顯示選項

●大內存，可用于數(shù)千種不同校準的測量應用

● Windows CE操作系統(tǒng)可以通過圖形用戶界面和用戶自定義的文件和文件夾結構，讓用戶直觀地進行操作。

●可選:Fischer數(shù)據中心軟件可以創(chuàng)建單獨的檢查計劃。

● USB接口可以連接PC和打印機。

無錫駿展儀器有限責任公司提供專業(yè)的技術服務和售后服務的各種精密檢測儀器和設備,和專業(yè)的技術能力,全面的產品資源,深思熟慮的和快速的服務,可靠的設備質量為目的,在加工、*制造、新材料應用,科學研究等前沿領域有*的優(yōu)勢。

Dualscope FMP40主要特點：

● 根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量LI>

● 自動識別基材（Dualscope FMP40）

● 可存儲高達20,000個數(shù)據

● 可建立多達100個應用程式

● 數(shù)據多可分為 4000個數(shù)據組

● 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測量結果

● 可以輸入過程公差極限并計算相應的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk

● 當超出公差極*，有聲音和視覺警告信號