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SunScan 冠層分析儀系統(tǒng)（無線）用途：通過測量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）
一用途HemiViewHMV.10通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況
一用途：通過測量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）
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