Fischer菲希爾X射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

• 菲希爾X射線測厚儀在電鍍過程中進(jìn)行移動實時測量

• 菲希爾X射線測厚儀對合金材料進(jìn)行移動實時檢測

菲希爾X射線測厚儀正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣，F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠菲希爾/費(fèi)希爾Fischer的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

Fischer菲希爾X射線測厚儀