菲希爾X射線測厚儀Fischer鍍金層測厚

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY特點(diǎn)

能量色散X射線熒光光譜儀，自動進(jìn)行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)；

菲希爾X射線測厚儀XDLM的最小測量點(diǎn)： 0.1毫米; XDL的最小測量點(diǎn)：約 0.2毫米

鎢X射線管或鎢微焦點(diǎn)管（XDLM）作為X射線源

經(jīng)驗(yàn)證可用于快速測量的比例接收器探測器

菲希爾X射線測厚儀固定或可更改的準(zhǔn)直器

菲希爾X射線測厚儀固定或可自動切換基本濾片

菲希爾X射線測厚儀可選擇手動或可編程的XY載物臺；

開槽箱體設(shè)計(jì)用于測量大的印刷電路板

通過攝像頭可輕松固定測量位置

經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備；