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當(dāng)前位置：無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>Elektrophysik測(cè)厚儀>>EPK測(cè)厚儀>> EPK MINITEST745測(cè)厚儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌ElektroPhysik/德國(guó)EPK
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間：2024-02-27 20:09:58瀏覽次數(shù)：922次
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
EPK MINITEST745測(cè)厚儀
●MiniTest 745 EPK測(cè)厚儀為ERICHSEN新一代的膜厚計(jì)，其測(cè)頭為新的可透過(guò)網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò)更新的內(nèi)置微數(shù)據(jù)處理器的SIDSP測(cè)頭
●MiniTest 745 EPK測(cè)厚儀全系列為可更換式測(cè)頭，使用者僅需更換測(cè)頭就可以有不同的量程及功能（磁性或非磁性），甚至可以更換為內(nèi)置式使用或雙用（磁性以及非磁性）測(cè)量
●LCD屏幕顯示的信息可180度旋轉(zhuǎn)，
●內(nèi)置數(shù)據(jù)記憶，可記憶100000筆數(shù)據(jù)，多分100個(gè)批組，
●機(jī)器可自行進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析
●符合的規(guī)范有：DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840；ASTM B 244，B 499，D 7091，E 376；AS 3884.3；SS 1841；SSPC- PA2
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