菲希爾X射線測厚儀Fischer XAN215

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X熒光射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明