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測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和...

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菲希爾代理、鍍層測厚儀XAN252，高性能X射線熒光測量儀，配有先進(jìn)的硅漂移探測(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

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FISCHER XULM240菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能、設(shè)計(jì)緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無...

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