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菲希爾熒光射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特性

X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測(cè)量任務(wù)

由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（大可達(dá) 80 mm），適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試

使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器，非常適用于測(cè)量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應(yīng)用

鍍層厚度測(cè)量：

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量

電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

材料分析：

電鍍槽液分析