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原子吸收光譜法中背景干擾的校正方法
在原子吸收光譜儀分子中背景干擾常常是樣品池中多原子狀態(tài)物質(zhì)對(duì)光源輻射的吸收或產(chǎn)生散射引起的。石墨爐原子化法的背景吸收遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于火焰法。校正背景干擾常用的方法是使用氘燈扣除背景。
1 用鄰近非共振線校正背景
用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，因非共振線不產(chǎn)生原子吸收，用它來測量背景吸收的吸光度，兩次測量值相減即得到校正背景之后的原子吸收吸光度。
2 連續(xù)光源校正背景
先用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度，再用氘燈或碘鎢燈、氙燈在同一波長測定背景吸收，計(jì)算兩次測定吸光度之差，即可使背景吸收得到校正，由于商品原子吸收光譜儀多采用氘燈作為連續(xù)光源扣除背景，故此法也被稱為氘燈扣除背景法。
3塞曼效應(yīng)校正背景
塞曼效應(yīng)校正背景是基于光的偏振特性，分為兩大類：光源調(diào)制法和吸收線調(diào)制法。以后者應(yīng)用廣泛。調(diào)制吸收線的方式，有恒定磁場調(diào)制方式和可變磁場調(diào)制方式。
4 自吸效應(yīng)校正背景
自吸效應(yīng)校正背景法是基于高電流脈沖供電時(shí)空心陰極燈發(fā)射線的自吸效應(yīng)。當(dāng)以低電流脈沖供電時(shí)，空心陰極燈發(fā)射銳線光譜，測定的是原子吸收和背景吸收的總吸光度。接著以高電流脈沖供電，空心陰極燈發(fā)射線變寬，當(dāng)空心陰極燈內(nèi)積累的原子濃度足夠高時(shí)，發(fā)射線產(chǎn)生自吸，在的情況下出現(xiàn)譜線自蝕，這是測定的是背景吸收的吸光度。上述2中脈沖供電條件下測得的吸光度之差，便是校正了背景吸收的凈原子吸收的吸光度。