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/// 超越所見，探索未知 ///
JSM-IT710HR 降低荷電: 樣品提供：東京農工大學 工學部生命工學科 朝倉哲郎先生
JSM-IT710HR 晶體結構分析: 樣品提供：物質材料研究所(NIMS) 津﨑 兼彰先生
新功能
1. 自動觀察：Simple SEM/EDS
Simple SEM 通過一次設定多個條件來實現自動測試，提高了日常工作效率。
2. Live 3D: 實時3D
在低倍率下可以觀察3D活圖像。
3. JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 低真空混合二次電子檢測器（LHSED）
LHSED是新型低真空檢測器，能夠在光發(fā)射信息和形貌像之間切換觀察。
4. 肖特基場發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性提高了4倍多
> 自動電子束調整
JSM-IT7010HR從合軸到像散、對焦可以自動調整，不需繁瑣的手動。
> 二次電子檢測系統(tǒng)
左側樣品：孔雀羽毛, 右側樣品：纖維素微纖維
> 高分辨率和大束流
JSM-IT710HR的肖特基場發(fā)射電子槍和聚光鏡一體化集成，在生成大束流的同時保持小束斑，能夠進行高分辨觀察和分析。
> 背散射電子檢測系統(tǒng)
新型的多分割背散射檢測器可以同時從4個方向采集背散射信息，生成簡單的3D像并實時顯示。
5. 所有分析都從Zeromag開始
使用Zeromag的光學像，視野搜尋能力提高；SEM像與光學像聯(lián)動，觀察、分析和自動測試簡單化。
6. JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 EDS一體化集成
JEOL除了SEM，還自主生產和銷售EDS。利用這一優(yōu)勢，可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結果，操作性和數據管理能力得到了提高。
7. 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡相分析
JEOL的EDS增加了相分析功能，可以對每種物質（化合物/單體）進行面分布分析。
樣品：精密切削刀片的截面
相分析表明，Co、Cu和Sn富區(qū)組分存在差異。
Co area: 68.15%
CuSn (CuRich) area: 16.25%
CuSn (SnRich) area: 14.54%
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