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深圳九州工業(yè)品有限公司
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當前位置:深圳九州工業(yè)品有限公司>>儀器>>photonic-lattice>> SE 系列photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀

photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀

參   考   價: 138880

訂  貨  量: ≥100 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號SE 系列

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時間:2024-07-11 10:13:41瀏覽次數(shù):691次

聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合
photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀SE 系列
這是一款高速映射橢圓儀,可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面(最大?300 mm 是可選的),可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。

photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀SE 系列

photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀SE 系列

這是一款高速映射橢圓儀,可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面(最大?300 mm 是可選的),可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。
從顯微鏡尺寸到大尺寸(約 50 cm),我們備有與測量對象相對應的產(chǎn)品系列

這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設備,它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。

一種可以在顯微鏡視野中測量雙折射的類型。

附帶的顯微鏡可以從奧林巴斯或尼康中選擇。

PA-micro-S 是沒有顯微鏡的只有測量頭的產(chǎn)品。

這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設備,它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。

它是一種可以在線安裝的類型,光源和測量臺可以分開。

這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設備,它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。

它是一種可以在線安裝的類型,光源和測量臺可以分開。


photonic-lattice二維雙折射評價系統(tǒng)PA-300系列







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