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現(xiàn)貨---FZ-i系列日本AND精密型電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO...

現(xiàn)貨---日本AND精密型FZ-i系列電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO...

現(xiàn)貨---精密型FZ-i系列日本AND電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO...

現(xiàn)貨---FZ-i系列精密型日本AND電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO...

FZ-i系列精密型日本AND電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO標(biāo)準(zhǔn)●統(tǒng)計(jì)...

日本AND愛(ài)安德FZ-i系列精密電子天平●內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼,一鍵自動(dòng)校準(zhǔn)●小型B5大小尺寸●快速穩(wěn)定僅需1秒●多種稱(chēng)重單位●符合GLP，GMP，GCP，ISO標(biāo)準(zhǔn)●...

日本ANDEJ系列小型輕便電子天平 EJ-303超高精度測(cè)量，達(dá)毫克級(jí)別（EJ-123,EJ-303)。帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示屏，...

日本AND電子天平EJ系列小型輕便天平 EJ-123超高精度測(cè)量，達(dá)毫克級(jí)別（EJ-123,EJ-303)。帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示...

分析檢測(cè)儀日本AND愛(ài)安德SV系粘度計(jì) SV-100●高精度采用正弦波振動(dòng)式粘度計(jì),測(cè)定重復(fù)精度1% (標(biāo)準(zhǔn)偏差)?！駱O寬連續(xù)測(cè)量范圍寬范圍粘度變化可連續(xù)測(cè)量，...

日本AND分析檢測(cè)儀SV系粘度計(jì) SV-10●高精度采用正弦波振動(dòng)式粘度計(jì),測(cè)定重復(fù)精度1% (標(biāo)準(zhǔn)偏差)?！駱O寬連續(xù)測(cè)量范圍寬范圍粘度變化可連續(xù)測(cè)量，SV-1...

日本AND分析檢測(cè)儀正弦波振動(dòng)式粘度計(jì)●非常少量的樣品SV-1A僅需2ml的樣品來(lái)測(cè)量,不需要浪費(fèi)更多的樣品,可以節(jié)約成本(SV-10A/SV-100A需要10...

正弦波振動(dòng)式粘度計(jì)AND分析檢測(cè)儀●非常少量的樣品SV-1A僅需2ml的樣品來(lái)測(cè)量,不需要浪費(fèi)更多的樣品,可以節(jié)約成本(SV-10A/SV-100A需要10ml...

AND分析檢測(cè)儀正弦波振動(dòng)式粘度計(jì)●非常少量的樣品SV-1A僅需2ml的樣品來(lái)測(cè)量,不需要浪費(fèi)更多的樣品,可以節(jié)約成本(SV-10A/SV-100A需要10ml...

分析檢測(cè)儀日本AND超聲波測(cè)厚儀體積小重量輕僅重180g,容易攜帶使用.它的輕重量允許長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)使用.容易操作只要簡(jiǎn)單地校正就可對(duì)材料進(jìn)行測(cè)試.無(wú)需特別的資格或...

日本AND分析檢測(cè)儀超聲波測(cè)厚儀體積小重量輕僅重180g,容易攜帶使用.它的輕重量允許長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)使用.容易操作只要簡(jiǎn)單地校正就可對(duì)材料進(jìn)行測(cè)試.無(wú)需特別的資格或...

日本AND分析檢測(cè)儀GR系列選配密度組件 ●單鍵自動(dòng)校準(zhǔn),全自動(dòng)校準(zhǔn)●自動(dòng)環(huán)境調(diào)節(jié)功能以適應(yīng)各類(lèi)應(yīng)用環(huán)境●操作方便,內(nèi)藏式折疊門(mén),體積小,超大操作室.使得操作方...

日本AND密度天平EJ-B系高分辨率分析檢測(cè)儀 帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示屏，易于觀察和適用于黑暗的環(huán)境。 固體密度直讀式測(cè)量,減少人...

日本AND密度天平高分辨率分析檢測(cè)儀EJ-B系 帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示屏，易于觀察和適用于黑暗的環(huán)境。 固體密度直讀式測(cè)量,減少人...

日本AND高分辨率分析檢測(cè)儀密度天平EJ-B系 帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示屏，易于觀察和適用于黑暗的環(huán)境。 固體密度直讀式測(cè)量,減少人...

高分辨率分析檢測(cè)儀日本AND密度天平EJ-B系 帶背光源的高清晰LCD顯示屏,高度為16mm液晶顯示屏，易于觀察和適用于黑暗的環(huán)境。 固體密度直讀式測(cè)量,減少人...