XRF-K5貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬成分檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內(nèi)置i3十核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高，性價比高。

產(chǎn)品特點

元素檢測范圍：鉀K(19)～鈾U(92)

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.010%～99.999%

檢測精度：±0.03%(9999金)

檢測樣品：貴金屬合金

錸鎢檢測報警

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

軟件界面簡潔明了，支持多種自定義報告

核心部件

探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN

探測器面積：6mm²

分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鋁

靶材：鎢

焦點：Φ0.5mm

準直器：Φ2.5mm