XF-T6是西凡儀器根據(jù)RoHS法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求，專門針對(duì)鹵素、RoHS、EN71等環(huán)保指令設(shè)計(jì)的一款RoHS檢測(cè)儀。采用最新的Smart FP算法可準(zhǔn)確檢測(cè)鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚等有害重金屬物質(zhì)。該產(chǎn)品采用進(jìn)口定制Si-pin探測(cè)器，內(nèi)置工控電腦，檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、性價(jià)比和準(zhǔn)確性高。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：硫(16)～鈾(92)

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

快速檢測(cè)RoHS1.0指令是否符合

鹵素檢測(cè)，支持EN71指令

檢出限：2ppm（最佳基體效應(yīng)）

檢測(cè)精度：相對(duì)誤差≤2.5%

檢測(cè)樣品：固體

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

內(nèi)置Intel i3電腦+Win11系統(tǒng)

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制版Si-pin探測(cè)器

面積：6mm²，分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel 11代I3電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材：鎢

焦點(diǎn)：Φ1.0mm

準(zhǔn)直器：Φ3.0mm