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日本YAMADA山田光學(xué)半導(dǎo)體檢查燈YP-150I/YP-250I區(qū)別有哪些
這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30Φ）或更高的照明，可以觀察到細(xì)微的劃痕。
日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。
2、光源采用鹵素?zé)?，色溫高，照度不均小，光線極其穩(wěn)定銳利。
3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。
4、兩級(jí)切換機(jī)構(gòu)，一鍵實(shí)現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。
YP-150I 照度范圍：30mmφ
YP-250I 照度范圍：60mmφ
高輝度鹵素光源裝置 YP-150I 表面檢查燈 YP-250I
高強(qiáng)度鹵素光源裝置
超精密平面檢測(cè)的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測(cè)小于 0.2 μm 的缺陷。
“YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測(cè)最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導(dǎo)體加工過程中勞動(dòng)強(qiáng)度的一種。晶圓和液晶板樣品表面的照度可超過 400,000 Lx。
另外，由于采用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高?/p>
光照不均勻的情況很少，光照***穩(wěn)定銳利。
姊妹機(jī)“YP-250I"也可用于 8 英寸。
[特點(diǎn)]
■ 光源采用鹵素?zé)?/p>
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請(qǐng)用于超精密平面檢測(cè)！
高亮度鹵素光源裝置“YP-250I"是用于檢測(cè)劃痕、拋光不均勻、霧度和滑移等各種缺陷的微觀察照明裝置。
采用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗珳馗?，減少照明不均，照明***穩(wěn)定銳利。
此外，本機(jī)為“YP-150I"的姊妹機(jī)，有螺旋槳風(fēng)機(jī)型和管道風(fēng)機(jī)型可供選擇，可根據(jù)應(yīng)用進(jìn)行使用。
【特點(diǎn)】
■ 可照射400,000 Lx以上的樣品表面
■ 可選擇螺旋槳式和風(fēng)道式
■ 使用冷鏡，熱影響是傳統(tǒng)的1/3
■ 高照度觀察和低照度照度觀察是一鍵式 可以
■ 8inch 兼容
[照明范圍]
■ YP-150I… 照度范圍 φ30
■ YP-250I… 照度范圍 φ60
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