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艾博納微納米科技(江蘇)有限責任公司

倒置金相顯微鏡的偏振光與微分干涉(DIC)應用

時間:2025-5-26 閱讀:114
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  倒置金相顯微鏡在材料分析中,偏振光與微分干涉(DIC)技術(shù)具有的應用價值。
  偏振光觀察主要應用于鑒別具有雙折射特性的物質(zhì),在材料分析中,它能幫助觀察金屬磨面的反射特性。在偏振光下,金屬的組成相雖不透明,但通過磨面反射規(guī)律可進行觀察與鑒別。例如,各向同性不透明夾雜物在正交偏振光下呈黑暗一片,而各向異性透明夾雜物則可觀察到包括體色和表色組成的色彩。此外,偏振光還可用于觀察透明球狀夾雜物的黑十字效應及等色環(huán),這些效應與物相的形狀和光學特性密切相關(guān)。
  微分干涉(DIC)技術(shù)則是一種基于相干光干涉現(xiàn)象的顯微鏡光學對比技術(shù)。在倒置金相顯微鏡中,DIC技術(shù)通過落射照明方式,利用起偏器、檢偏器和DIC棱鏡,將樣品表面形貌的變化轉(zhuǎn)化為光程差,從而形成具有強立體感和浮雕效果的圖像。DIC技術(shù)對金相樣品的制備要求較低,甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進行觀察。它能夠突出樣品各組成相間的相對層次關(guān)系,增加各相間的反差,使顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等細節(jié)更加清晰可見。在材料科學、半導體工業(yè)、精密機械制造等領(lǐng)域,DIC技術(shù)已成為一種重要的檢測手段,能夠觀察到明場下難以判別的結(jié)構(gòu)細節(jié)或缺陷,提高檢驗準確性。

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