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首頁>>大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列

  • 碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng) 參考價:面議

    碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng):最高檢測速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識別。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對比
    SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀碳化硅成像檢測碳化硅襯底檢測
    2025/5/7 9:33:201644
  • SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng) 參考價:面議

    碳化硅成像檢測,SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng):晶圓襯底質(zhì)量(載流子壽命)高速成像,快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對比
    SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)碳化硅成像檢測
    2024/12/4 11:13:581120
  • 鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統(tǒng) 參考價:面議

    鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統(tǒng)檢測時間<10 min(10cm*10cm) 空間分辨率20 μm/100μm。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對比
    分析儀器半導(dǎo)體光學(xué)檢測
    2024/12/4 11:10:25781
  • MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng) 參考價:面議

    MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)明場/PL檢測類型:明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對比
    半導(dǎo)體光學(xué)檢測晶圓級綜合檢測系統(tǒng)
    2024/12/4 11:08:391175

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