您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
15803007556
當前位置：藤田（重慶）精密儀器設備有限公司>>檢測、計量類>>日本Otsuka大塚>> OPTM-A2日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列
產(chǎn)品型號OPTM-A2
品 牌OTSUKA/日本大塚
廠商性質經(jīng)銷商
所 在 地重慶市
更新時間：2025-04-21 17:29:56瀏覽次數(shù)：127次
聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)
可攜帶至現(xiàn)場的手持式
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列
與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！
非接觸式載臺
對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。
產(chǎn)品開發(fā)-量測試作品
1.攜帶到合作廠商等，直接在現(xiàn)場量測效率Up
2.試作階段的檢查方法商定效率Up
規(guī)格樣式
量測原理 | 反射分光法（光干涉法）、非破壞性量測 |
膜厚量測范圍 | 1~50μm（顯示上限60μm） |
重復精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
量測時間 | 1秒內 |
量測層數(shù) | 1層 |
數(shù)據(jù)輸出 | 附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案 |
量測Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 約1.1kg |
選配
筆型探頭
能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。
膜厚測量范圍 | 1μm～50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質及產(chǎn)品質量。
化工儀器網(wǎng)