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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	5萬-10萬
應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,汽車及零部件

　　OTSUKA/日本大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術(shù)和分離技術(shù)為基礎(chǔ)，這些技術(shù)不僅是公司的技術(shù)根源，也是新材料分析的核心技術(shù)并以這些技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)和銷售好的產(chǎn)品。利用光散射技術(shù)的產(chǎn)品是大塚電子歷史最悠久的產(chǎn)品系列之一。在許多大學(xué)、機(jī)構(gòu)和企業(yè)中，做為功能材料和新材料物性評估測量設(shè)備被高度評價(jià)。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發(fā)絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設(shè)備，并在各應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行改進(jìn)。同時(shí)，從基礎(chǔ)研究到質(zhì)量控制的用途不斷擴(kuò)大，在這一領(lǐng)域已經(jīng)成為日本好的國產(chǎn)制造商，獲得了高的信任。

　　利用光散射作為新材料分析的核心技術(shù)，并將其應(yīng)用于納米技術(shù)領(lǐng)域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準(zhǔn)，拓展新材料、生命科學(xué)、高分子化學(xué)，以及半導(dǎo)體和醫(yī)藥等領(lǐng)域的應(yīng)用。

　　Otsuka大塚膜厚儀● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式

　　具有形狀的樣品也可非破壞的測量

　　● 可測量0.1μm單位

　　● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜

　　● 可測量0.1μm單位

　　Otsuka大塚膜厚儀● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量

　　● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜

　　各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得(電子天平)、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備、顯影)、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克(檢查光源)、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀)、KOSAKA小坂(臺(tái)階儀)、HORIBA堀場儀器(分析儀)、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測定)、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)