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成都精新粉體測試設(shè)備有限公司
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JX-2000顆粒圖像分析儀由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成,，是一款專業(yè)的顆粒圖像分析儀器。該儀器可直接觀察顆粒的形貌，能夠使用戶全面了解顆粒的形狀、狀態(tài)、變化等信息，還可以測量顆粒粒度分布、長徑比等參數(shù)（包含有圖像、數(shù)據(jù)列表、圖表），操作直觀方便，應(yīng)用范圍十分廣泛。
應(yīng)用行業(yè)
1、 磨料：金剛石、碳化硅、白剛玉、石榴石等；
2、 球形：玻珠、鋁粉、凝膠顆粒、球形石墨、球形合金粉等；
3、 針狀：硅灰石、藥粉等；
4、 其他金屬粉、非金屬粉、食品等；
5、 用于科研教學(xué)，以及驗(yàn)證其他粒度測試的準(zhǔn)確性。
應(yīng)用案例——磨料
對于磨料微粉來說，影響質(zhì)量的因素有顆粒強(qiáng)度、顆粒形狀、粒度組成、雜質(zhì)含量等。顆粒圖像分析儀可以準(zhǔn)確的檢測出金剛石顆粒的形狀、粒度組成等數(shù)據(jù)，是我國現(xiàn)行金剛石微粉粒度測量標(biāo)準(zhǔn)的推薦儀器。
應(yīng)用案例——球形顆粒
顆粒的形狀對粉體的物理性能、化學(xué)性能、輸運(yùn)性能和工藝性能有很大的影響。對于球形顆粒來說，球形度高的顆粒，粉體的流動性好、填形性好，粉末結(jié)合后材料的均勻性高。
應(yīng)用案例——片狀顆粒/針狀顆粒
顆粒的厚度小于該顆粒所屬粒級上下限粒徑平均值0.4倍者則稱為片狀顆粒，顆粒的長度大于該顆粒所屬粒級上下限粒徑平均值2.4倍者稱為針狀顆粒。
應(yīng)用集合
顆粒圖像分析儀可以直接觀測各種顆粒的形狀（球狀、方形、條形、針形、不規(guī)則多邊形等），為客戶提供有價(jià)值的圖像信息。
