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超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究方向

閱讀:1335      發(fā)布時(shí)間:2022-5-30
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超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢,為滿足對這些材料的粒度分析,激光粒度儀的測量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展。


所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測量下限已經(jīng)達(dá)到 20nm 甚至10nm,而樣品折射率(包括吸收率)是一個(gè)重要條件,如果折射率錯(cuò)誤,將導(dǎo)致粒度測試結(jié)果錯(cuò)誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來越多用常規(guī)手段測試這些材料的折射率很困難,這是粒度測試遇到的難題。


為解決這個(gè)難題,高性能激光粒度儀測量樣品折射率的方法,在粒度測試前先測量折射率和吸收率,保證了對新材料粒度測試的準(zhǔn)確性,收到了很好的效果。



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