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該產(chǎn)品可廣泛應用于環(huán)境、石化、冶金、食品飲料、地球化學和水泥行業(yè)的普通和元素分析實驗室。

作為等離子體發(fā)射光譜儀的核心部件之一，iCAP 6000系列的檢測器采用了第四代電荷注入式（CID）檢測器RACID86，其出色的“防溢出”能力，使得高強度信號可被迅速檢出的同時，對于較低強度的信號可以進行一個較長時間的積累，從而保證了*的信噪比以及電阻/飽和電阻比。RACID86檢測器實現(xiàn)了可選擇感興趣區(qū)域（ROI）和真正的隨機存取像素地址，這一功能極大縮短了分析時間，提高了樣品分析通量。

 

160-800nm 連續(xù)波長覆蓋（標準配置），選購特殊光學元件可擴展至120nm遠紫外光區(qū)，以便

 

用更靈敏的譜線進行鹵族元素的遠紫外分析.

 

40.68MHZ固態(tài)電路RF發(fā)生器，穩(wěn)定性優(yōu)；

 

750～1550W RF功率可調(diào)；

 

0.64米焦距；離子刻蝕全息閃耀光柵尺寸: 100×80mm

 

2400gr/mm(一、二級光譜)，4320gr/mm，任選一塊和兩塊；

 

實際分辨率≤0.011nm,(160-430nm);≤0.019nm,(160-800nm)

 

HDD高動態(tài)檢測器（JY）在115秒內(nèi)采集160～800nm全部光譜；

Analyst軟件，智能化、多功能，Analyst Wiz ard專家系統(tǒng)與豐富的譜線庫及標準樣品數(shù)據(jù)庫；

Win-lmage全譜快速采集、快速定性、半定量分析；

計算機控制儀器工作條件，程序控制預設點火時間，及熄火時間，并設有安全保護措施。

法國JY技術的光學系統(tǒng)曾獲得美國NASA產(chǎn)品獎，每臺JY2000-2型ICP光譜儀上都裝備有同等質(zhì)量的光學系統(tǒng)。

應用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)法對硅鋁鋇合金中的主次量元素

 

Si,Al,Ba,Fe,Ca,Mn,Cu進行同時測定。樣品(100mg)于聚四氟乙烯密封罐中,用2mL鹽酸(1+1)、

 

3mL硝酸(1+1)和1mL氫氟酸在室溫下溶解,20min后加入15mL硼酸溶液除氟,試液經(jīng)過濾后,用于

 

ICP-AES測定。通過對溶樣方法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀分析參數(shù)的優(yōu)化,以及對影響分析結(jié)果準確度的因素進行校正,方法的準確度得到提高。應用本法測定國家標準參考物質(zhì)

 

其結(jié)果與認定值一致,加標回收率為98.1%～104.7%,RSD小于4%。