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目錄:牛津儀器(上海)有限公司>> CMI900系列X射線涂鍍層厚度測量儀

X射線涂鍍層厚度測量儀
  • X射線涂鍍層厚度測量儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
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具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌
  • 型號 CMI900系列
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地
屬性

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更新時間:2017-07-16 22:14:15瀏覽次數(shù):1432評價

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CMI 900/950型 X-射線膜厚測量儀

CMI 900/950型 X-射線膜厚測量儀    

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的全面自動化控制,分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定zui多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點zui小可達0.025 x 0.051毫米。

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