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ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

ED2000采用全數(shù)字化電子線路設計，其緊密耦合的X射線光學系統(tǒng)和Pentafet探測器技術實現(xiàn)了zui高的計數(shù)率、*的分辨率和zui低的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時，檢出下限可達0.5ppm。

Pentafet技術克服了能量色散技術中，元素分辨能力隨計數(shù)率增高而下降的缺點，即使在較高計數(shù)情況下，仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術提高了信號處理速度，縮短了分析時間。ED2000的zui大計數(shù)率高于50,000cps；在17,000cps計數(shù)率的情況下，分辨率優(yōu)于140eV。

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