許多技術(shù)可以檢測(cè)納米大小的顆粒，但還不能提供有關(guān)粒子組成的信息，并且比較耗費(fèi)時(shí)間和成本。電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）具有多元素同時(shí)分析的能力，檢出限低且動(dòng)態(tài)范圍寬，非常適合用于無機(jī)工程納米顆粒（ENPs）的測(cè)量。有關(guān)ENPs特征的更多信息可以通過耦合一個(gè)按粒子大小分離的步驟在進(jìn)行ICP-MS分析之前優(yōu)先進(jìn)行分析。此應(yīng)用程序中常用的大小分離技術(shù)是場(chǎng)流分離（FFF）技術(shù)。由此產(chǎn)生的FFF-ICP-MS的聯(lián)用技術(shù)可以提供十億分之一（ppt）數(shù)量級(jí)水平的納米粒子的分離，檢測(cè)和成分分析的能力。這對(duì)納米材料的環(huán)境學(xué)調(diào)查是至關(guān)重要的。
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