輻射率（也稱發(fā)射率）是依據(jù)物體本身的溫度輻射出能量的能力，是描述被測(cè)物體輻射能力的參數(shù)，也指物體自身輻射的能量與同一溫度下黑體所輻射的能量比，用符號(hào) ε 表示。輻射率僅僅與物體表面的性質(zhì)（成分、結(jié)構(gòu)）有關(guān)。熱輻射是一種電磁波，光譜范圍一般指 0.2μ ～ 50μ，其中包括可見光。在物理學(xué)中，普朗克黑體輻射定律是用于描述在任意溫度 T 下，從一個(gè)黑體中發(fā)射的電磁輻射的輻射率與電磁輻射的頻率的關(guān)系公式。這里輻射率是頻率ν的函數(shù)：
我們通常只關(guān)心材料表面輻射的強(qiáng)度、空間分布及其光譜分布，樣品外表面向整個(gè)半球空間發(fā)射的一切波長(zhǎng)的總輻射能與同溫度下黑體輻射能之比稱為半球輻射率，垂直于樣品表面方向的輻射稱為法向輻射。根據(jù)不同的測(cè)試原理，輻射率測(cè)量方法通常分為量熱法，反射率法，輻射能量法和多波長(zhǎng)測(cè)試方法等。
輻射能量法即為在同一溫度下用同一套光譜儀分別測(cè)試黑體和樣品的發(fā)射光譜曲線，兩者進(jìn)行積分比值就是材料的輻射率值。此法有以下幾個(gè)方面的限制：
1. 加熱不均勻帶來的黑體及樣品表面的溫度梯度對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響；
2. 無法理想控制黑體及樣品在一個(gè)相同的溫度進(jìn)行測(cè)量，1K 的溫差將對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生幾個(gè)百分點(diǎn)的誤差；
3. 傅里葉變換紅外光譜儀自身的噪聲和周圍環(huán)境將對(duì)較低溫度及較低輻射率的測(cè)試產(chǎn)生影響。
由于以上限制，目前基于傅里葉變換紅外光譜儀進(jìn)行的黑體爐輻射測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量誤差，大多在 3% 左右。
反射率法是依據(jù)基爾霍夫定律得出的輻射率測(cè)量方法，基爾霍夫定律用于描述物體的發(fā)射率與吸收比之間的關(guān)系，在給定溫度條件下，任何物體的輻射率在數(shù)值上等于此物體的吸收率。結(jié)合普朗克定律及維恩定律，直接測(cè)試出的材料反射光譜就可以計(jì)算出材料在測(cè)試溫度下的發(fā)射比，此方法操作簡(jiǎn)單，成本低廉，尤其是對(duì)于輻射能量法難以測(cè)試的低發(fā)射率樣品能夠計(jì)算出材料的輻射率。
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