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首頁 >> 資料下載 >> ICP-OES 分析高濃度鈀（Pd）內(nèi)的微量硒 （Se）
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鈀(Pd)是目前半導體超微鍍金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微鍍金，所以主要成分鈀(Pd)的準確含量很重要，所含雜質(zhì)的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高濃度鈀(Pd)內(nèi)的微量硒 (Se)的解決辦法。
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