顆粒：不同尺寸任意形狀的離散單體，其形態(tài)可以是固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)。
粉體：無(wú)數(shù)顆粒的堆積體，又叫粉末。
粒度：顆粒的大小稱(chēng)為顆粒的粒度，也可稱(chēng)為粒徑。粒度或粒徑表示的是顆粒直徑。
粒度分布：不同粒度間隔的顆粒占粉體總量的百分?jǐn)?shù)（或累計(jì)百分?jǐn)?shù)）稱(chēng)為頻率粒度分布（或累計(jì)粒度分布）。其縱坐標(biāo)為不同基準(zhǔn)計(jì)算的粒度組成，可以是個(gè)數(shù)、長(zhǎng)度、面積、體積的百分?jǐn)?shù)或累計(jì)百分?jǐn)?shù)，其橫坐標(biāo)為不同基準(zhǔn)計(jì)算的粒度值。
體積分布：以顆粒體積為基準(zhǔn)的粒度分布。
中位粒徑/中值粒徑：累積粒度分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到50%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑，寫(xiě)作D50。
等效粒徑：實(shí)際顆粒的外形通常是非球形的，當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，我們就用該球形顆粒的直接來(lái)代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑，稱(chēng)之為等效粒徑，根據(jù)不同的測(cè)量方法，有不同的等效粒徑，如：
1、等效體積粒徑：即與所測(cè)顆粒具有相同體積的同質(zhì)球形顆粒的直徑。
2、等效沉速粒徑：即與所測(cè)顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑。重力沉降法、離心沉降法所測(cè)的粒徑 為等效沉速粒徑。
3、等效電阻粒徑：即在一定條件下與所測(cè)顆粒具有相同電阻的同質(zhì)球形顆粒的直徑。
4、等效投影面積粒徑：即與所測(cè)顆粒具有相同投影面積的球形顆粒的直徑。圖像法所測(cè)的粒徑即為等效投影面積粒徑。
比表面積：顆粒的表面積與其質(zhì)量（或體積）之比。
真密度：顆粒的質(zhì)量除以不包括閉孔在內(nèi)的顆粒體積。
松裝密度/堆積密度：以自然的方法填滿(mǎn)已知體積的容器，其顆粒質(zhì)量除以該容器的容積。
振實(shí)密度：以一定方法將顆粒填充到容器中，讓容器按一定規(guī)律振動(dòng)后，容器中顆粒質(zhì)量除以振動(dòng)后顆粒的表觀(guān)體積。
流動(dòng)性：粉體在外力作用下發(fā)生位置移動(dòng)的性質(zhì)。
休止角：粉體堆積層的自由表面在靜止平衡狀態(tài)下與水平面形成的zui大角度，也稱(chēng)靜止角、安息角。
分級(jí)：把顆粒分離成不同粒度級(jí)別的過(guò)程。
分散：使粉體盡可能以單一顆粒在其他介質(zhì)中均勻分布的過(guò)程。
分散劑：防止顆粒團(tuán)聚，使其分散成單個(gè)顆粒的添加劑。
介質(zhì)：粒度測(cè)量通常是將樣品置于某種液體或氣體中，形成一定顆粒濃度的均勻懸浮的懸浮液，這種均勻懸浮液通過(guò)測(cè)量窗口時(shí)就可以進(jìn)行粒度測(cè)量。這里所用的液體或氣體是起媒介作用的物質(zhì)，稱(chēng)為介質(zhì)。
激光粒度儀測(cè)試原理：一個(gè)有代表性的顆粒樣品以一定濃度分散在適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì)中，激光光束通過(guò)該介質(zhì)，當(dāng)光遇到顆粒后以各種角度散射，由多元檢測(cè)器測(cè)量這些散射光強(qiáng)度，并且記錄散射圖上相應(yīng)的數(shù)值用于隨后的分析。使用相應(yīng)的光學(xué)模型和數(shù)學(xué)模型轉(zhuǎn)化這些散射光數(shù)據(jù)，從而得出顆粒樣品的粒徑大小及分布。
顆粒測(cè)試方法
光衍射法：通過(guò)測(cè)量顆粒分散體系的衍射（散射）光強(qiáng)度分布求得顆粒粒徑大小和分布的分析方法，又稱(chēng)光散射法。
光子相關(guān)光譜法：測(cè)量顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)引起的某一角度下散射光強(qiáng)度隨時(shí)間的變化，通過(guò)相關(guān)函數(shù)分析求得顆粒的粒徑大小及分布。
顯微圖像法：利用顯微鏡成像結(jié)合圖像分析系統(tǒng)測(cè)量粉體的形貌和粒度分布的分析方法，包括靜態(tài)圖像法和動(dòng)態(tài)圖像法。
氣體吸附法：在恒定溫度下，通過(guò)測(cè)定樣品在一系列分壓下對(duì)被吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附-脫附等溫線(xiàn)，以求得樣品比表面積和孔徑分布的方法。
BET 理論：即多孔物質(zhì)的多分子層吸附理論，建立在langmuir方程之上，并對(duì)其修正的一種方法，是用于計(jì)算比表面的zui普遍的理論。