各種常用粒度測試方法各有那些優(yōu)缺點

(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高。

(2) 動態(tài)圖像法：由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，可干法也可濕法，可測量zui大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺 點：分析細顆粒（如-2 μm ）圖像不清晰，誤差較大，成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法：由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。優(yōu)點：成本較低，操作簡單，圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：分析速度慢，無法分析細 顆粒（如-2 μm ）。

(4) 電鏡法：用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進行圖像 分析的方法。優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。缺點：單幅圖像中的顆粒數少、代表性差、儀器價格昂貴。

(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數，分辨力高，樣品用量少。缺點：進樣系統(tǒng)比較復雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。

(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。

(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。缺點：測試時間較長，操作較復雜，結果易受環(huán)境因素影響。

(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于 38 μm  （400  目）的樣品。缺點：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

(9) 動態(tài)光散射法：動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體（通常為純凈水）中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運動（布朗運動）的碰撞而進行不規(guī)則運動。當一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時，會在引起的散射光強的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關，對這些信號進行相關運算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到微米）、測試速度快，重復性好，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

(10)超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需取樣。缺點：分辨率較低，準確性和重復性較差，結果受環(huán)境因素影響較大。

(11)透氣法（費氏法）：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可直接測量干粉，可測磁性材料粉體。缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。